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原子間力顕微鏡 Atomic Force Microscope (AFM)
原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscopy;AFM）とは、走査型顕微鏡の一種である。試料と探針間に働く原子間力を検出することによって、試料表面を原子レベルで可視化する技術。

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