米ロスアラモス国立研究所の研究者が、指紋が付着面の性質から通常見えない場合にも対応できる新しい指紋検出法を開発した。 この方法は、マイクロ蛍光X線という技術を使って指紋の跡に残っている化学元素を検出するもので、指紋が変形してしまう恐れがないと、このプロジェクトのメンバーである研究者のクリストファー・ウォーリー氏は語る。
「従来の方法は通常の光で指紋パターンをとらえる。そのため、指紋に粉をかけて際立たせなければならないが、そうすることで指紋を変形させてしまう場合がある」とウォーリー氏。「新しい手法なら指紋に一切触れる必要がなく、変形の心配もない。指紋に残存している元素を特定し、同時に指紋パターンを取得できる」
この方法では、X線の細いビームを照射して指紋が付いた面をスキャンし、その結果からコンピュータ画像を作成する。
機器のコストは約17万5000ドルだ。（引用：ITmediaNews）
物質にＸ線を照射すると、その物質の構成元素に固有のエネルギー（蛍光Ｘ線、X-Ray Fluorescence Spectrometry）が放出されます。この蛍光Ｘ線を分光し、波長と強度を測定することで、物質中の元素の種類と量を分析することができます。
関連書籍
